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本例程基于STC32G为主控芯片的实验箱进行编写测试.

使用Keil C251编译器，Memory Model推荐设置XSmall模式，默认定义变量在edata，单时钟存取访问速度快。

edata建议保留1K给堆栈使用，空间不够时可将大数组、不常用变量加xdata关键字定义到xdata空间。

本实验测试使用的2.4寸320*240的并口彩屏，是在淘宝店 https://kcer001.taobao.com/ 提供的样品彩屏上测试通过的。

下载时, 选择时钟 24MHZ (用户可自行修改频率).

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//=========================================电源接线================================================//
//VDD接DC 3.3V电源
//GND接地
//=======================================液晶屏数据线接线==========================================//
//本模块数据总线类型为8位并口
//液晶屏模块               STC32G
// LCD_D0~D7     接       P60~P67        //液晶屏8位数据线
//=======================================液晶屏控制线接线==========================================//
//液晶屏模块               STC32G
// LCD_RS        接        P45           //数据/命令选择控制信号
// LCD_RD        接        P44           //读控制信号
// LCD_RST       接        P43           //复位信号
// LCD_WR        接        P42           //写控制信号
// LCD_CS        接        P34           //片选控制信号
//===========================================触摸屏接线============================================//
//不使用触摸或者模块本身不带触摸，则可不连接
//触摸屏使用的数据总线类型为SPI
//液晶屏模块               STC32G
//  T_CS         接        P52          //触摸屏片选控制信号
//  T_CLK        接        P25          //触摸屏SPI时钟信号
//  T_DO         接        P24          //触摸屏SPI读信号
//  T_DIN        接        P23          //触摸屏SPI写信号
//  T_IRQ        接        P36          //触摸屏响应检查信号
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