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本例程基于AI8051U为主控芯片的实验箱进行编写测试。

使用Keil C51编译器，为了达到比较高的效率，一般建议选择"Small"模式。

当编译器出现 "error C249: 'DATA': SEGMENT TOO LARGE" 错误时，则需要手动将部分比较大的数组通过"xdata" 强制分配到 XDATA 区域（例如：char xdata buffer [256];）。

读ADC和测温度.

用STC的MCU的IO方式控制74HC595驱动8位数码管。

使用Timer0的16位自动重装来产生1ms节拍,程序运行于这个节拍下,用户修改MCU主时钟频率时,自动定时于1ms.

右边4位数码管显示温度值, 分辨率0.1度.

NTC使用1%精度的MF52 10K@25度.

测温度时, 使用12位的ADC值, 使用对分查找表格来计算, 小数点后一位数是用线性插补来计算的.

下载时, 选择时钟 24MHZ (用户可自行修改频率).

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