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本例程基于AI8051U为主控芯片的实验箱进行编写测试。

使用Keil C51编译器，为了达到比较高的效率，一般建议选择"Small"模式。

当编译器出现 "error C249: 'DATA': SEGMENT TOO LARGE" 错误时，则需要手动将部分比较大的数组通过"xdata" 强制分配到 XDATA 区域（例如：char xdata buffer [256];）。

读ADC测量外部电压，使用内部基准计算电压.

用STC的MCU的IO方式控制74HC595驱动8位数码管。

使用Timer0的16位自动重装来产生1ms节拍,程序运行于这个节拍下, 用户修改MCU主时钟频率时,自动定时于1ms.

右边4位数码管显示测量的电压值.

串口1(P3.0,P3.1)配置：115200,N,8,1，使用文本模式打印电压值.

外部电压从板上测温电阻两端输入, 输入电压0~VDD, 不要超过VDD或低于0V. 

实际项目使用请串一个1K的电阻到ADC输入口, ADC输入口再并一个102~103电容到地.

下载时, 选择时钟 24MHz (用户可自行修改频率).

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